用XRF测定氧化铝陶瓷成分

• 作者: 孟德安 简本成 马慧侠
• 来源期刊: 现代技术陶瓷
• 学科: 工学
• 关键词: X射线荧光光谱 经验系数 基本参数法 熔融玻璃片法 氧化铝陶瓷
• 年，卷（期）: 2012,（2）
• 所属期刊栏目: 应用技术
• 页码范围: 43-47
• 页数: 5页
• 分类号: TQ174.758
• 字数: 2822字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-1198.2012.02.017

摘要

介绍了使用X射线荧光光谱法测定氧化铝陶瓷主次量成分。用熔融玻璃片法制样，此方法简单，迅速，成本低。选用铝土矿GBW07177～GBW07182和GSB04—2606—2010系列标准样品，采用仪器软件SuperQ中提供的飞利浦模式的经验系数（Classic）和基本参数法校正元素间的谱线重叠干扰和基体效应，使用Magix（PW2403）x射线荧光光谱仪对样品中的Al2O3，SiO2，Fe2O3，TiO2，K2O，Na2O，CaO和Mg0共8个元素进行测定，各组分的RSD均小于3．36％，测量结果与计算值的误差在化学分析允许差范围内。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	马慧侠	中国铝业股份有限公司郑州研究院	17	127	5.0	11.0
2	简本成	中国铝业股份有限公司郑州研究院	8	32	2.0	5.0
3	孟德安	中国铝业股份有限公司郑州研究院	7	5	1.0	2.0