基于原子力显微镜的纳米抛光颗粒的摩擦力测量方法

• 作者: 李静楠 王元元 郭丹
• 来源期刊: 中国表面工程
• 学科: 工学
• 关键词: 原子力显微镜 纳米颗粒 摩擦力 横向力模式 NanoMan
• 年，卷（期）: 2012,（2）
• 所属期刊栏目: 表面工程研究
• 页码范围: 21-25
• 分类号: TH117.1
• 字数: 2843字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-9289.2012.02.004

摘要

基于原子力显微镜接触模式,使用侧向力扫描测量单个纳米颗粒与基底表面的摩擦力,从而为颗粒从基底表面去除提供最为直接的测试方法.对硅片表面进行羟基化增强其亲水性,将聚苯乙烯纳米颗粒单层均匀地分散到硅片上.使用横向力模式和NanoMan两种方法侧向推动纳米颗粒,测得单个颗粒与硅片表面之间的最大静摩擦力分别为(1.57±0.09)μN和(1.51±0.13)μN,试验结果基本一致,表明这两种测量方法可靠有效.此外,NanoMan可控制针尖推动单个颗粒在基底表面做滑移运动,表明颗粒-基底的滑动摩擦力与针尖施加载荷和扫描速度密切相关.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	郭丹	清华大学摩擦学国家重点实验室	27	337	9.0	18.0
2	王元元	清华大学摩擦学国家重点实验室	3	28	3.0	3.0
3	李静楠	清华大学摩擦学国家重点实验室	1	5	1.0	1.0