Si掺杂锐钛矿相TiO2的电子能带结构

• 作者: 刘磊 吴国浩 王芳 郑树凯
• 来源期刊: 中国粉体技术
• 关键词: 密度泛函理论 锐钛矿 电子能带
• 年，卷（期）: 2012,（6）
• 所属期刊栏目: 颗粒测试与表征
• 页码范围: 36-38
• 页数: 3页
• 分类号: TG146.4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-5548.2012.06.008

摘要

利用基于密度泛函理论的第一性原理方法对Si掺杂前、后锐钛矿相TiO2的电子能带结构、电子态密度以及吸收光谱进行计算.结果表明,Si掺杂导致锐钛矿相TiO2的禁带宽度略增大0.048 eV；掺杂前锐钛矿相TiO2的价带和导带主要由O的2p和Ti的3d轨道构成,Si掺杂后其价带和导带主要由Si的3p、Ti的4s和Ti的3d轨道构成；Si掺杂可导致锐钛矿相TiO2的吸收边蓝移.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘磊	河北大学电子信息工程学院	45	218	9.0	13.0
5	王芳	河北大学电子信息工程学院	102	398	9.0	17.0
9	郑树凯	河北大学电子信息工程学院	33	90	5.0	8.0
13	吴国浩	河北大学电子信息工程学院	17	77	5.0	8.0