静电放电对SCB起爆装置作用的数值模拟及实验研究

• 作者: 周彬 沈瑞琪 秦志春 陈飞
• 来源期刊: 南京理工大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 起爆装置 半导体桥 静电放电 电流密度 焦耳热 扫描电镜 X射线能谱分析
• 年，卷（期）: 2012,（5）
• 页码范围: 824-829
• 页数: 6页
• 分类号: TJ450.1|O441.1
• 字数: 3913字
• 语种: 中文

摘要

为了研究静电放电对半导体桥(SCB)起爆装置的作用机理,根据静电作用的特点,对SCB起爆装置进行静电放电实验,建立了电容放电的电-热分析模型,利用有限元分析软件ANSYS对静电作用过程的温度场进行模拟仿真.扫描电镜观测和X射线能谱分析可知,半导体桥的尖角处电流密度最大,温度最高；静电通过焦耳热效应作用于SCB起爆装置,使得桥的尖角区域最先汽化损伤.研究结果可为SCB起爆装置的抗静电危害设计提供参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	沈瑞琪	南京理工大学化工学院	171	1017	16.0	20.0
2	陈飞	南京理工大学化工学院	11	79	6.0	8.0
3	周彬	南京理工大学化工学院	53	505	12.0	20.0
4	秦志春	南京理工大学化工学院	46	482	12.0	20.0