SoC中存储器测试技术的研究

• 作者: 柴华 江志强 谈恩民
• 来源期刊: 大众科技
• 学科: 工学
• 关键词: SoC存储器 IEEE Std 1500 测试外壳 BIST
• 年，卷（期）: 2012,（3）
• 页码范围: 33-35,39
• 页数: 4页
• 分类号: TP343
• 字数: 1705字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1008-1151.2012.03.015

摘要

随着集成电路规模的不断扩大,基于IP核复用的SoC设计技术被广泛应用,但是由于IP核的来源不同,使得SoC的测试变得越来越困难。IEEE Std 1500给IP核提供商与用户之间提供了标准的测试接口,简化核测试信息的复用。文章基于此标准设计了SoC中存储器的Wrapper测试壳结构和BIST控制器,以DRAM和SRAM为测试对象进行验证,结果表明了在不同测试指令和故障模式下,测试壳和控制器的有效性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谈恩民	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	53	221	8.0	11.0
2	柴华	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	4	9	2.0	2.0
3	江志强	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	5	13	2.0	3.0