浅谈金属化电容器损耗角正切tanδ的有效控制

• 作者: 王振东 陈翠华
• 来源期刊: 电力电容器与无功补偿
• 关键词: 损耗角正切 喷金工艺 焊接工艺 接触电阻
• 年，卷（期）: 2012,（3）
• 所属期刊栏目: 制造工艺
• 页码范围: 61-64,76
• 分类号: TM533+.3
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1674-1757.2012.03.012

摘要

降低和控制损耗角正切tanδ是决定CBB21型金属化电容器性能是否优异的关键,根据卷绕、热聚合、喷金、焊接、浸渍、测试等工序对损耗影响关系分析,通过工艺参数的优化比较,提出选择合理工艺参数,尤其是喷金、焊接工艺参数,能够有效控制和降低电容器的损耗角正切tanδ.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王振东		9	21	2.0	4.0
2	陈翠华		2	10	1.0	2.0