使用大规模存储器电路的PEX技术研究

• 作者: 吴海宏 张勇 曹燕杰 朱琪 王勇 董自凯
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: PEX 寄生参数 LPE 后仿真
• 年，卷（期）: 2012,（3）
• 所属期刊栏目: 电路设计
• 页码范围: 19-24
• 页数: 6页
• 分类号: TN702
• 字数: 3662字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1681-1070.2012.03.005

摘要

随着集成电路（IC）制造工艺向深亚微米逐渐深入,寄生参数对IC的性能影响越来越大,因此对寄生参数的提取及分析（后仿真）也就显得愈发重要。文章以寄生参数提取的原理及基本方法为引入,分析寄生RC参数产生机制和计算方法,并以含有大规模存储单元的IC设计为例,研究如何利用现有的提取工具解决提取效率的问题,提出了模块划分、重复利用、参数定位和反标配置等操作方案,重点分析基于calibre XRC的PEX在IC设计中遇到的问题,并结合实际情况给出合适的解决方案。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴海宏		4	10	2.0	3.0
2	王勇		3	10	2.0	3.0
3	董自凯		1	1	1.0	1.0
4	朱琪		2	8	1.0	2.0
5	曹燕杰		2	8	1.0	2.0
6	张勇		2	8	1.0	2.0