高密度、阵列式的表面肌电技术对脑性瘫痪的侧弯反射检测研究

• 作者: 吴德 唐久来 姜俊红 李志奇 薛妹 路之远 钱玲玲 陈香
• 来源期刊: 中国临床药理学与治疗学
• 关键词: 表面肌电 侧弯反射 脑性瘫痪
• 年，卷（期）: 2012,（6）
• 所属期刊栏目: 药物治疗学
• 页码范围: 696-699
• 分类号: R742.8
• 语种: 中文

摘要

目的:侧弯反射是脑性瘫痪儿童神经行为检测的一个重要指标,其阳性率与临床医生的经验有关.缺乏科学,简单的监测手段.方法:本研究采用阵列式高密度的表面肌电技术,对24例侧弯反射阳性的脑性瘫痪儿童,30名侧弯反射阴性的正常儿童(经两名副主任以上医师独立鉴定)进行侧弯反射测定,探讨其临床应用的价值.结果:阳性组24例脑性瘫痪儿童的侧弯反射的强度MMAV(侧弯反射阳性检测的量化指标)为(48.9±17.4) mV,阴性组MMAV为(3.1±1.2) mV,两组差别有统计学意义(t=11.750,P＜0.01).结论:采用表面肌电检测技术测试侧弯反射,不仅可以定性,而且可以定量,值得临床推广应用.