牛津仪器推出最新X射线镀层测厚仪

• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: X射线荧光 测厚仪 仪器 牛津 镀层 材料分析仪 过程控制 探测器
• 年，卷（期）: 2012,（11）
• 所属期刊栏目: 行业视点
• 页码范围: 55-56
• 页数: 2页
• 分类号: TH821.1
• 语种: 中文

摘要

牛津仪器非常荣幸地推出新款X-Strata920X射线荧光（XRF）镀层测厚和材料分析仪。该X-Strata920结合了大面积正比计数探测器和牛津仪器微聚焦X射线光管，使X射线光束强度大、斑点小，样品激发更佳，榍保同级别中精确性最好，分析结果只需要几秒钟，从而获得更有效的过程控制和性价比。