RAID可靠性技术解析—自修复

• 作者: 古世磊
• 来源期刊: 科技浪潮
• 学科: 工学
• 关键词: RAID 自修复 数据转移 技术解析 硬盘故障 SCSI 物理损坏 介质故障 存储介质 映射表
• 年，卷（期）: kjlc_2012,（3）
• 页码范围: 28-29
• 页数: 2页
• 分类号: TP333

摘要

【正】因为少量坏扇区而引起的磁盘失效,极大降低了系统的可靠性。文章介绍的自修复技术,可将坏硬盘中坏扇区的数据转移到预留扇区上,将坏扇区标记出来不再使用,以达到磁盘的高可靠性访问。