单片机系统脉冲γ辐射效应研究

• 作者: 刘岩 李瑞宾 杨善潮 林东生 金晓明 陈伟 马强
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: 脉冲γ辐射 单片机系统 闩锁 瞬时扰动
• 年，卷（期）: 2012,（z1）
• 所属期刊栏目: 技术及应用
• 页码范围: 602-606
• 分类号: O571.33
• 语种: 中文

摘要

本文以建立的EE80C196KC20型单片机运行系统为研究对象,在“强光一号”加速器上,对系统中的LM7805型电源芯片和EE80C196KC20型单片机进行了脉冲γ辐射效应实验研究,获得了单片机的闩锁阈值,得到了功耗电流、I/O输出随剂量率的变化规律,从实验上证实了电源芯片对单片机脉冲γ辐射闩锁效应的抑制作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈伟		95	286	8.0	11.0
2	林东生		33	148	8.0	10.0
3	杨善潮		28	101	6.0	7.0
4	李瑞宾		13	28	3.0	4.0
5	马强		10	26	3.0	4.0
6	金晓明		11	16	2.0	2.0
7	刘岩		10	36	3.0	5.0