有线耳机电连接的可靠性研究

• 作者: 吴秀敏 芦娜
• 来源期刊: 机电元件
• 学科: 工学
• 关键词: 耳机 接触电阻 插拔寿命试验 湿热循环试验
• 年，卷（期）: 2012,（4）
• 所属期刊栏目: 试验与检测
• 页码范围: 39-43
• 分类号: TN784
• 字数: 665字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-6133.2012.04.010

摘要

影响有线耳机可靠性的因素很多,比如接口的物理结构、所选择的接触材料,接触的几何形状,镀层的质量等.本文以三种不同镀层材料的耳机为研究对象,对其进行插拔寿命试验和湿热循环试验,以接触电阻为参数来衡量样品的电接触可靠性能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	芦娜	北京邮电大学自动化学院电连接和连接器科研室	16	47	4.0	5.0
2	吴秀敏	北京邮电大学自动化学院电连接和连接器科研室	1	0	0.0	0.0