基于8～14μm带宽的谱带发射率的研究

• 作者: 于坤 刘玉芳 施德恒 贾光瑞
• 来源期刊: 光谱学与光谱分析
• 学科: 物理学
• 关键词: 光谱发射率 谱带发射率 辐射测温计 多项式拟合
• 年，卷（期）: 2012,（2）
• 页码范围: 289-292
• 分类号: O433.1
• 字数: 2620字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3964/j.issn.1000-0593(2012)02-0289-04

摘要

针对红外测量中常用的8～14 μm的带宽,依据前人的实验结果,计算了两种材料的谱带发射率,并且通过简单的实验,测量了几种材料的谱带发射率.实验和计算结果表明:谱带发射率与温度之间存在着某种函数关系.对于常用的带通辐射测温仪和热像仪,如果测量对象为非灰体,仍然把发射率值看作是一个常数,将会导致较大的测量误差.初步研究表明,对于非金属和真空中的金属,谱带发射率与温度近似存在线性关系.利用拟合出的谱带发射率与温度的函数关系式,可以作为辐射测温仪和热像仪的修正,不仅简化了计算,而且能够提高其测量精度.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘玉芳	北京理工大学光电学院	156	576	11.0	17.0
3	施德恒	河南师范大学物理与信息工程学院	58	183	7.0	10.0
6	贾光瑞	北京理工大学光电学院	3	22	3.0	3.0