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摘要:
随着只读存储器密度越来越大,对读取速度的要求越来越高,位线大电容逐渐成为影响只读存储器读取速度的关键问题.设计了一种存储器拓扑结构,这种结构通过改变存储单元读取点的位置,能有效避免位线大电容充放电对读取速度的不利影响,极大地缩短了读取周期,提高了只读存储器的读取速度.该拓扑结构的优势在TSMC 0.13μm工艺仿真库里得到验证.
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文献信息
篇名 一种高速只读存储器拓扑结构的设计
来源期刊 微电子学 学科 工学
关键词 只读存储器 位线电容 拓扑结构
年,卷(期) 2012,(1) 所属期刊栏目 电路与系统设计
研究方向 页码范围 46-49
页数 分类号 TP333
字数 3404字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1004-3365.2012.01.012
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李平 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室 144 1645 22.0 36.0
2 罗小勇 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室 8 8 2.0 2.0
3 罗前 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室 10 7 2.0 2.0
4 陈奕含 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室 4 7 2.0 2.0
5 陈志钧 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室 3 4 1.0 2.0
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2016(1)
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研究主题发展历程
节点文献
只读存储器
位线电容
拓扑结构
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
微电子学
双月刊
1004-3365
50-1090/TN
大16开
重庆市南坪花园路14号24所
1971
chi
出版文献量(篇)
3955
总下载数(次)
20
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