一种基于退化数据的元器件可靠性定量检验方法研究

• 作者: 孙悦 田笑 高成 黄姣英
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 可靠性鉴定 失效物理 退化数据 键合强度 定量检验
• 年，卷（期）: 2012,（13）
• 所属期刊栏目: 电子技术
• 页码范围: 168-172
• 分类号: TN06-34
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-373X.2012.13.053

摘要

针对高可靠元器件可靠性鉴定中缺乏可靠性级别定量评价的问题,基于失效物理,分析了键合强度参数退化及失效判据,并给出了退化模型的数学表达和参数估计方法,研究基于退化量分布的可靠性定量检验方法,并采用AD厂家的AD524SD作为试验器件,进行了相应的试验分析和验证.结果表明,提出的高可靠性级别器件鉴定检验方法具有很好的工程适用性和应用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	黄姣英	北京航空航天大学可靠性与系统工程学院	41	128	6.0	10.0
2	孙悦	北京航空航天大学可靠性与系统工程学院	5	19	3.0	4.0
3	高成	北京航空航天大学可靠性与系统工程学院	42	195	8.0	13.0
4	田笑	中国航空工业集团公司沈阳飞机设计研究所	3	14	2.0	3.0