商业纯镁的低频阻尼性能

• 作者: 吴昆 王晓军 胡小石 赫晓东 郑明毅
• 来源期刊: 中国有色金属学报（英文版）
• 关键词: 商业纯镁 晶体取向 阻尼性能 铸造织构 时效 晶体缺陷
• 年，卷（期）: 2012,（8）
• 页码范围: 1907-1911
• 页数: 5页
• 字数: 507字
• 语种: 英文
• DOI: 10.1016/S1003-6326(11)61406-4

摘要

采用机械动态分析仪测试纯度为99.96％纯镁的阻尼性能随应变振幅和温度的变化.测试的纯镁包括具有不同晶体学取向的商业镁合金铸锭CPM1和CPM2以及重新熔炼的等轴晶纯镁CPM.商业纯镁柱状晶粒的织构显著影响纯镁的阻尼性能,而重新熔炼的纯镁获得等轴晶,从而避免铸造织构对其阻尼性能测试结果产生的影响.结果表明:在阻尼应变谱中,等轴晶纯镁的阻尼性能明显高于有柱状晶织构的纯镁.对于三种纯镁,阻尼温度谱在80和230℃分别存在两个阻尼峰P1和P2,这两个阻尼峰分别是由位错与点缺陷交互作用以及晶界运动引起的.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赫晓东	哈尔滨工业大学复合材料与结构研究所	187	2763	28.0	42.0
2	吴昆	哈尔滨工业大学材料科学与工程学院	20	329	11.0	18.0
3	郑明毅	哈尔滨工业大学材料科学与工程学院	16	265	9.0	16.0
4	胡小石	哈尔滨工业大学材料科学与工程学院	10	92	4.0	9.0
5	王晓军	哈尔滨工业大学材料科学与工程学院	9	60	4.0	7.0