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摘要:
根据存储测试系统微功耗的要求,研制了微型光电倒置开关.详细介绍了倒置开关的设计过程及工作原理.此开关具有微体积、微功耗、耐高低温、抗高冲击、可靠性高等优点,工作时只需要将开关倒置,就能实现“关”状态和“开”状态的单向转换.该微型开关是电源控制技术的关键技术,也是实现存储测试系统微功耗的关键部件.实际应用中已取得良好的效果,值得推广应用
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倒置开关
存储测试
CPLD
测试系统
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 微型光电倒置开关的设计
来源期刊 传感器世界 学科 工学
关键词 存储测试 低功耗 倒置开关
年,卷(期) 2012,(11) 所属期刊栏目 技术与应用
研究方向 页码范围 21-24
页数 4页 分类号 TN606
字数 2122字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘琴 中国电子科技集团公司第三十三研究所 4 5 2.0 2.0
2 凤宝利 中国电子科技集团公司第三十三研究所 3 5 2.0 2.0
3 张瑜 中北大学信息与通信工程学院 73 338 11.0 13.0
4 张红艳 中北大学信息与通信工程学院 33 101 5.0 9.0
传播情况
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引文网络
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1995(2)
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研究主题发展历程
节点文献
存储测试
低功耗
倒置开关
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
传感器世界
月刊
1006-883X
11-3736/TP
大16开
北京市北四环中路35号教2楼501(北京9716信箱404分箱)
82-694
1995
chi
出版文献量(篇)
2678
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