谐振腔损耗曲线拟合

• 作者: 李超良 邹志勇 高爱华
• 来源期刊: 半导体光电
• 学科: 工学
• 关键词: 谐振腔 扫频激光 压电陶瓷 曲线拟合
• 年，卷（期）: 2012,（6）
• 所属期刊栏目: 材料、结构及工艺
• 页码范围: 838-841
• 分类号: TN247
• 字数: 1233字
• 语种: 中文

摘要

功率谱曲线的半高宽是谐振法测量光学谐振腔腔体损耗的重要参数之一。针对测量的电压曲线存在噪声大、纹波大、波形失真严重等问题,采用扫频激光作为入射光源,利用Labview软件编程对实验数据进行曲线拟合,有效地去除了测量噪声,使电压曲线的半高宽具有较好的重复性。最后按照一定的算法将其转换为功率谱曲线的半高宽,从而计算出被测腔体的损耗。在不增加硬件成本的基础上提高了测量精度。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	高爱华	西安工业大学陕西省薄膜技术与光学检测重点实验室	51	247	8.0	12.0
2	李超良	西安工业大学陕西省薄膜技术与光学检测重点实验室	2	4	2.0	2.0
3	邹志勇	西安工业大学陕西省薄膜技术与光学检测重点实验室	2	4	2.0	2.0