EAST装置锂化壁下低杂波等离子体温度行为研究

• 作者: K.Hill M.Bitter Sanggon Lee 吕波 徐经翠 李颖颖 沈永才 王福地 石跃江 符佳
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 工学
• 关键词: 温度剖面 低再循环 锂化壁
• 年，卷（期）: 2012,（14）
• 所属期刊栏目: 气体、等离子体和放电物理
• 页码范围: 294-299
• 分类号: TL631.24
• 字数: 2867字
• 语种: 中文

摘要

在EAST全超导托卡马克归一化半径r/α≤0.6区域内部,在高功率低混杂波电流驱动辅助加热下,以及第一壁锂化处理条件下,在低混杂波注入中期观测到电子温度剖面和离子温度剖面变平的现象.利用X射线弯曲晶体光谱仪诊断系统,并结合其他相关诊断系统研究了在第一壁锂化条件下,以及EAST低杂波放电位形下,电子温度剖面和离子温度的剖面行为.研究结果表明：电子温度剖面和离子温度剖面变平的现象是由于第一壁锂化处理技术对从等离子体边界流向第一壁的粒子流产生了影响,使得边界粒子再循环模式受到抑制,这种低再循环模式的存在引起了温度剖面的变化.同时观察到离子温度和电子温度彼此接近的现象,这是由于随着等离子体密度的增加,电子与离子之间的碰撞行为加剧所产生的结果.