微光像增强器管壳内部真空度恶化分析研究

• 作者: 侯志鹏 刘峰 师宏立 徐江涛 程耀进 闫磊
• 来源期刊: 真空电子技术
• 学科: 工学
• 关键词: 微光像增强器 真空度 放气 漏气
• 年，卷（期）: 2012,（2）
• 所属期刊栏目: 研究与设计
• 页码范围: 55-57
• 分类号: TN144
• 字数: 2439字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-8935.2012.02.012

摘要

微光像增强器是重要的光电器件,本文研究该器件在制作过程中出现的部分像管工作寿命低的原因,根据潘宁放电原理,结合气体在材料中的扩散理论和气体在极其微小漏孔中的流动理论,对密封像管管壳内部真空度变化进行了检测和分析,提出引起管壳内部真空度下降的主要原因是像管管壳封接端面存在的缺陷.这对制备长寿命微光像增强器有很高的应用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘峰		2	1	1.0	1.0
2	闫磊		4	1	1.0	1.0
3	徐江涛		7	7	2.0	2.0
4	师宏立		4	47	3.0	4.0
5	程耀进		5	50	3.0	5.0
6	侯志鹏		1	1	1.0	1.0