MH/Ni电池的长期储存性能

• 作者: 吴爱深 谈健 邱钟明
• 来源期刊: 电池
• 学科: 工学
• 关键词: MH/Ni电池 长期储存 荷电态(SOC) 容量 放电平台 循环寿命
• 年，卷（期）: 2012,（1）
• 所属期刊栏目: 技术交流
• 页码范围: 36-38
• 分类号: TM912.2
• 字数: 1775字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-1579.2012.01.014

摘要

将MH/Ni电池在室温下以不同的荷电态(SOC)进行长期储存,对储存前后的电池性能进行测试.长期储存后,电池的内阻变化较大,储存24个月后的平均内阻增加43.46％,平均容量恢复率为90.33％.长期储存对MH/Ni电池的容量、放电平台及循环寿命都会产生不利的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	邱钟明		2	1	1.0	1.0
2	谈健		1	0	0.0	0.0
3	吴爱深		2	1	1.0	1.0