X射线荧光光谱法测定粗银中九种元素

• 作者: 张叶华 陈燕 龚昌合
• 来源期刊: 铜业工程
• 关键词: X荧光光谱法 粗银 空白样品 背景 基体 成分
• 年，卷（期）: 2012,（6）
• 所属期刊栏目: 提取冶金与化学工程
• 页码范围: 17-19,51
• 页数: 4页
• 分类号: P575.5
• 语种: 中文

摘要

应用波长扫描X射线荧光光谱仪对粗银中Ag、Au、Cu、Se、Te、Sb、Pb、Pd、Bi九种元素进行测定.运用空白试样系数校正法对各元素的谱线重叠进行校正,理论系数与经验系数相结合对样品基体效应进行校正,有效克服了各元素谱线的背景干扰与基体效应.精密度试验和比对试验表明:该方法分析检测值与化学法检测值相吻合；分析相对标准偏差为0.24％～13.64％,对比分析相对误差为0～13.93％；本方法简单、快速、准确.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	龚昌合		5	7	2.0	2.0
2	陈燕		2	4	1.0	2.0
3	张叶华		2	4	1.0	2.0