电感耦合等离子体-质谱法测定高纯硫粉末中17种痕量杂质

• 作者: 墨淑敏 潘元海 王长华
• 来源期刊: 分析试验室
• 学科: 化学
• 关键词: 电感耦合等离子体质谱 高纯硫 杂质
• 年，卷（期）: 2012,（3）
• 所属期刊栏目: 研究报告与研究简报
• 页码范围: 11-13
• 分类号: O657.63
• 字数: 1743字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1000-0720.2012.03.003

摘要

建立电感耦合等离子体-质谱(ICP-MS)法测定高纯硫粉中Si、P、V、Cr、Mn、Ni、Co、Cu、As、Zn、Zr、Cd、In、Sb、Te、Pb、Bi等17种痕量金属杂质含量的方法.样品用HClO4溶解后挥发硫基体,使样品中杂质元素得到富集,各杂质元素的方法检出限为0.1～50ng/g.方法加标回收率为83％ ～ 117％.各杂质元素均为10ng/mL的混合标准溶液平行7次测定的相对标准偏差均小于5％.该方法能够满足纯度为99.999％ ～99.9999％的高纯硫样品中杂质测定的需要.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	潘元海	北京有色金属研究总院分析测试所	13	205	7.0	13.0
2	王长华	北京有色金属研究总院分析测试所	23	148	8.0	11.0
3	墨淑敏	北京有色金属研究总院分析测试所	8	37	4.0	6.0