电迁移寿命预警电路设计

• 作者: 王浩 罗宏伟 陈义强 陈媛
• 来源期刊: 电子产品可靠性与环境试验
• 关键词: 电迁移 可靠性 预兆单元法
• 年，卷（期）: 2012,（z1）
• 所属期刊栏目: 可靠性设计与工艺控制
• 页码范围: 233-237
• 分类号: TN402
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2012.z1.058

摘要

提出了一种电迁移寿命的实时预测方法,并在0.18 μm CMOS混合信号工艺下完成了预警电路的设计.预警电路与主电路放置在同一芯片上,经历相同的制造工艺和环境参数,任何影响主电路可靠性的因素都将施加在该预警电路上,从而克服了离线测试的局限性,具有实时在线测试的优点.当预警电路中电迁移引起的金属膜电阻器的阻值超过预设的界限时,其输出电平就会发生翻转,发出预警信号,主电路即将发生失效.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	罗宏伟		12	65	5.0	7.0
5	王浩	广东工业大学材料与能源学院	12	44	5.0	5.0
14	陈义强		1	2	1.0	1.0