氧的同位素气体在NiO表面的热脱附的测定与分析

• 作者: 吴震弘 汪洋
• 来源期刊: 真空科学与技术学报
• 学科: 化学
• 关键词: CO2 吸附 Ni16O 程序升温脱附 脱附
• 年，卷（期）: 2012,（6）
• 所属期刊栏目: 其它
• 页码范围: 529-532
• 分类号: O641|TB71
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1672-7126.2012.06.16

摘要

采用程序升温脱附实验方法测量氧的同位素C1602,C18O2和18Q2分别在Ni16O表面吸附后的脱附谱,其结果表明C16O2在Ni16O表面吸附后出现C16O2和C16O两个波峰,且C16O2和C16O的脱附量随C16O2气体暴露量增加而增加,其峰值温度随C16O2气体暴露量增加而减少,当C16O2气体覆盖度超过一定值后,C16O2和C16O脱附量趋于常数,其活化能分别是0.48eV 和0.42 eV.C18O2在Ni6O表面吸附后出现C16O2,C18O16O,C18O2三个波峰,这说明吸附气体C18O2与Ni16O表面发生氧同位索交换,随温度升高而脱附出C16O2;18O2在NiO表面吸附后主要以18O2脱附,说明了富18O2有相对抑制与Ni16O表面氧的同位素交换的作用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	汪洋	黑龙江科技学院理学院	24	87	7.0	8.0
5	吴震弘	浙江理工大学理学院	2	8	1.0	2.0