原文服务方: 计算机应用研究       
摘要:
可重构电子系统芯片固定型故障的传统容错设计往往采用集中式控制方法,存在测试时间长、硬件资源利用率低、对外部控制器依赖性高等问题.因此,设计了一种具有分布式自主容错能力的可重构细胞阵列,通过将细胞内部查找表输出与参考值进行比较的方式进行循环检测,并利用冗余存储单元对故障查找表进行修复.以四位并行乘法器为例进行仿真验证,实验结果表明,新型可重构阵列的自主容错设计方法,比现有设计的硬件开销小,修复时间短,容错能力强,且设计复杂度不受阵列规模影响.
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文献信息
篇名 可重构电子系统芯片级在线自主容错方法研究
来源期刊 计算机应用研究 学科
关键词 可重构电子系统 分布式控制 细胞阵列 芯片级在线自主容错
年,卷(期) 2012,(6) 所属期刊栏目 系统应用开发
研究方向 页码范围 2172-2175,2179
页数 分类号 TP302.8
字数 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1001-3695.2012.06.045
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 王友仁 南京航空航天大学自动化学院 190 2254 25.0 36.0
2 袁鹏 南京航空航天大学自动化学院 19 276 9.0 16.0
3 张砦 南京航空航天大学自动化学院 38 464 12.0 20.0
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研究主题发展历程
节点文献
可重构电子系统
分布式控制
细胞阵列
芯片级在线自主容错
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
计算机应用研究
月刊
1001-3695
51-1196/TP
大16开
1984-01-01
chi
出版文献量(篇)
21004
总下载数(次)
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总被引数(次)
238385
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