航天元器件关键工艺的统计过程控制方法

• 作者: 段超 贾彬
• 来源期刊: 航天器环境工程
• 学科: 航空航天
• 关键词: 统计过程控制 元器件工艺 二方审查 数据监控
• 年，卷（期）: 2012,（2）
• 所属期刊栏目: 管理撷英
• 页码范围: 227-230
• 页数: 4页
• 分类号: V46-65
• 字数: 2868字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-1379.2012.02.022

摘要

文章以统计过程控制(SPC)中的均值—标准差( X —R)控制图理论方法为基础，以宇航元器件关键工序中的集成电路键合拉力强度为研究对象，提出宇航元器件关键工序进行 SPC 的必要性，并提出以( X —R)控制图作为质量工具对宇航元器件关键工艺进行质量监控的方法，计算出该关键工艺的过程能力指数

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	段超	中国空间技术研究院宇航物资保障事业部	5	8	2.0	2.0
2	贾彬	中国空间技术研究院宇航物资保障事业部	3	5	2.0	2.0