真空沿面闪络过程放电光谱分析

• 作者: 吴锴 孟国栋 成永红 西小广
• 来源期刊: 绝缘材料
• 关键词: 真空沿面闪络 环氧树脂 光谱分析 深浅陷阱 电子发射
• 年，卷（期）: 2012,（3）
• 所属期刊栏目: 测试与分析
• 页码范围: 64-68
• 分类号: TM855|TM201.4+4
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-9239.2012.03.016

摘要

选取高压真空绝缘体系中常用的环氧树脂为研究对象,通过添加不同粒径的纳米无机填料,分析不同填料对沿面闪络过程的影响.利用闪络过程光谱实时测量系统分别研究红外光、可见光及紫外光范围内的闪络发光光谱的时域波形,从发光光谱的角度分析闪络过程的发生和发展机理.结果表明:闪络光谱强度并不随闪络电压的升高而增强,纳米无机氧化物的添加会引入更多的深陷阱能级,且会增加高能光子的发射.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	成永红	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	78	1073	18.0	27.0
2	吴锴	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	71	1014	20.0	28.0
3	孟国栋	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	8	43	4.0	6.0
4	西小广	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	1	1	1.0	1.0