基于1／f噪声变化的pn结二极管辐射效应退化机理研究

• 作者: 何亮 刘玉栋 孙鹏 杜磊 赵瑛 陈文豪
• 来源期刊: 物理学报
• 学科: 工学
• 关键词: pn结 辐照损伤 1/f噪声 损伤
• 年，卷（期）: 2012,（12）
• 所属期刊栏目: 凝聚物质：电子结构、电学、磁学和光学性质
• 页码范围: 534-540
• 分类号: TN312.4
• 语种: 中文

摘要

基于pn结二极管辐射效应退化机理中位移效应和电离效应之间的关系，并结合pn结二极管辐射退化的噪声机理，得到了pn结二极管辐射诱导低频噪声的变化规律，发现两种效应引起的二极管噪声变化规律之间的不一致性．根据实验得到的噪声变化规律，判断出了辐射应力条件下两种效应之间的关系，很好地解释了实验中出现的不符合原有理论解释的现象，对器件加固的研究有着重要意义．

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杜磊	西安电子科技大学技术物理学院	99	486	13.0	18.0
2	何亮	西安电子科技大学技术物理学院	36	212	7.0	14.0
3	陈文豪	西安电子科技大学技术物理学院	15	128	6.0	11.0
4	孙鹏	西安电子科技大学技术物理学院	16	70	4.0	8.0
5	刘玉栋	西安电子科技大学技术物理学院	2	9	2.0	2.0
6	赵瑛	西安电子科技大学技术物理学院	1	3	1.0	1.0