中子衍射应力谱仪的模拟计算

• 作者: 刘丽鹃 孙良卫 王姝驭
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 应力谱仪 中子注量率 分辨率
• 年，卷（期）: 2012,（4）
• 页码范围: 399-401,470
• 分类号: TL817.3
• 字数: 1834字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0258-0934.2012.04.007

摘要

中子衍射法是迄今为止可直接测量材料或工程部件内部深处应力场分布的唯一非破坏性方法,在工程上具有重要的应用.论文用McStas软件模拟计算了应力谱仪样品台处的注量率,同时理论计算了谱仪的分辨率,并且分析了第二准直器对样品台处中子注量率和谱仪分辨率的影响,结果表明谱仪的第二准直器对中子注量率影响很大,样品处衍射角小于120°时,谱仪分辨率良好.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	孙良卫	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	16	19	3.0	3.0
2	刘丽鹃	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	16	22	3.0	4.0
3	王姝驭	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	3	1	1.0	1.0