基于平行平板的折射率高精度非接触测量

• 作者: 姜明达 熊芬 胡中文
• 来源期刊: 应用光学
• 学科: 工学
• 关键词: 光学测量 折射率 非接触测量
• 年，卷（期）: 2012,（1）
• 所属期刊栏目: 光学计量与测试
• 页码范围: 148-152
• 分类号: TN206|TH751
• 字数: 2663字
• 语种: 中文
• DOI: 10.5768/JAO201233.0103010

摘要

常用的测量折射率的方法如偏向角法、自准直法、临界角法、V棱镜法等,这些方法通常需特制三棱镜与待测件.待测样品不一致且过程复杂,测试定标周期长,难于自动化.为了保证待测材料的完整及实现自动化测量,进行了基于平行平板的折射率非接触测量的尝试.运用该方法进行折射率的测量,不需特制三棱镜并且待测件与待测样品一致.分析表明,通过选择合适的测量角度,该方法旋转角度精度为△s=0.003°(即10”),导轨精度为△L=0.000 8 mm,平行平板厚度测量精度为△d=0.001mm.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	熊芬	中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所	2	9	2.0	2.0
10	胡中文	中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所	11	143	5.0	11.0
19	姜明达	中国科学院国家天文台南京天文光学技术研究所	1	5	1.0	1.0