红外硫系玻璃内部宏观缺陷透视成像检测系统

• 作者: 吴礼刚 宋宝安 徐铁峰 戴世勋 李祖盼 沈祥 王训四
• 来源期刊: 中国激光
• 学科: 工学
• 关键词: 探测器 红外硫系玻璃 透视成像 内部宏观缺陷 边缘检测
• 年，卷（期）: 2012,（1）
• 所属期刊栏目: 测量与计量
• 页码范围: 163-167
• 页数: 5页
• 分类号: TN247|TN216
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/CJL201239.0108001

摘要

红外硫系玻璃透射率高,光谱范围宽,可广泛应用于红外热像仪等光学系统,然而红外玻璃在熔制过程中容易因组分不均匀造成各种内部缺陷,影响成像质量.利用透视成像的原理,在分辨力估算的基础上,设计了一种可检测玻璃内部宏观缺陷的系统.这种系统光源功率可调,可以检测厚度和直径都在几毫米到几十毫米范围内的红外硫系玻璃,在300 mm成像距离条件下分辨尺寸达到0.19 mm,并且可对长度63.4 mm的物体成满像.通过Sobel算子进行玻璃内部条纹边缘提取,可以获得更加清晰的条纹特征.