TD-LTE与WCDMA系统共存的干扰研究

• 作者: 徐大为 李瑞杰 李超 滕建辅
• 来源期刊: 微处理机
• 学科: 工学
• 关键词: 长期演进 宽带码分多址系统 最小耦合损耗法 干扰共存
• 年，卷（期）: 2012,（4）
• 所属期刊栏目: 微机网络与通信
• 页码范围: 40-42,45
• 分类号: TN929
• 字数: 2697字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1002-2279.2012.04.012

摘要

WCDMA作为3G制式之一,已在中国成功商用.TD - LTE是TD - SCDMA的长期演进,未来也将启用.两种系统在同一地区的共存必将造成两种系统性能的退化.用最小耦合损耗法( MCL,Minimum Coupling Method)对共存的干扰进行了分析,计算出了隔离要求,并给出了能有效降低系统间干扰的天线配置方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	滕建辅	天津大学电子信息工程学院	69	640	11.0	23.0
2	李超	天津大学电子信息工程学院	42	320	11.0	16.0
3	李瑞杰	天津大学电子信息工程学院	3	10	2.0	3.0
4	徐大为	天津大学电子信息工程学院	1	5	1.0	1.0