QCA电路的缺陷研究

• 作者: 李政操 蔡理 黄宏图
• 来源期刊: 微纳电子技术
• 学科: 物理学
• 关键词: 量子元胞自动机(QCA) 元胞缺陷 单电子故障 漂移电荷 串扰
• 年，卷（期）: 2012,（3）
• 所属期刊栏目: 器件与技术
• 页码范围: 147-151
• 分类号: O471.1
• 字数: 2805字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-4776.2012.03.002

摘要

针对量子元胞自动机电路中出现的元胞移位等元胞缺陷,介绍了基于QCADesigner的元胞缺陷分析,得出了特定结构的容错范围.对于制造过程出现的单电子故障,分析了不同输入时单电子故障对传输线和反相器的影响.对于制造过程中出现的漂移电荷缺陷,分析了这些缺陷对传输线的影响.通过改变元胞与传输线之间的距离,研究了QCA传输线之间的串扰问题,得出了其容错范围.最后对RS触发器中出现的元胞缺陷采用测试序列进行了分析研究,从而为进一步研究QCA电路的缺陷提供了依据和方向.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	蔡理	空军工程大学理学院	136	382	8.0	11.0
2	李政操	空军工程大学理学院	12	35	4.0	5.0
3	黄宏图	空军工程大学理学院	14	47	5.0	6.0