组件单元失效下的相控阵雷达暴露区研究

• 作者: 侯少岭 刘洪亮 周志增 顾荣军
• 来源期刊: 现代防御技术
• 学科: 工学
• 关键词: 相控阵雷达 副瓣电平 失效单元 雷达暴露区
• 年，卷（期）: 2012,（6）
• 所属期刊栏目: 探测跟踪技术
• 页码范围: 140-144,160
• 页数: 6页
• 分类号: TN958.92
• 字数: 2617字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-086x.2012.06.026

摘要

相控阵雷达组件单元失效会引起副瓣电平和天线增益的恶化,失效单元超过一定数量会严重影响到雷达的性能.详细讨论了单元失效对雷达天线副瓣、增益以及目标信号相参积累的影响.同时,结合某相控阵雷达天线模型,对外界存在有源干扰时的雷达暴露区进行了仿真分析.可以看出,单元失效使雷达副瓣电平抬高,进而导致雷达暴露区明显缩小.