基于IEEE 1500标准的嵌入式存储器测试壳的研究

• 作者: 柴华 江志强 谈恩民
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 嵌入式存储器 IEEE 1500标准 测试壳
• 年，卷（期）: 2012,（10）
• 所属期刊栏目: 自动化测试技术
• 页码范围: 2636-2639
• 分类号: TP333
• 语种: 中文

摘要

超大规模集成电路和超深亚微米技术的快速发展,促使了系统芯片(System on Chip,SoC)的产生,同时在SoC中也集成了越来越多的嵌入式存储器,因此嵌入式存储器对SoC芯片的整体性能有非常重要的影响;文章针对SoC中的嵌入式存储器的可测试性设计展开研究；文章基于IEEE1500标准针对DRAM和SRAM设计了具有兼容性的存储器的测试壳结构,并结合BIST控制嚣,在QuartusⅡ平台上,采用硬件描述语言对测试壳在不同测试指令下的有效性和灵活性进行验证,结果表明文章所设计的测试壳结构达到了预期的要求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谈恩民	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	53	221	8.0	11.0
2	柴华	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	4	9	2.0	2.0
3	江志强	桂林电子科技大学电子工程与自动化学院	5	13	2.0	3.0