纳米颗粒粒度测量方法进展

• 作者: 宫惠峰 果晶晶 陈宁
• 来源期刊: 现代科学仪器
• 学科: 工学
• 关键词: 纳米粒度分析 TEM SEM XRD DLS
• 年，卷（期）: 2012,（2）
• 所属期刊栏目: 综述与评论
• 页码范围: 160-163
• 分类号: TH742
• 语种: 中文

摘要

本文介绍了测量纳米颗粒粒度时应用广泛的几种方法：透射电镜观察法（TEM观察法）、扫描电镜（SEM）观察法、X射线衍射线宽法（谢乐公式）的原理、适用范围及其优缺点。文中介绍了纳米测量技术的发展趋势并简单总结了动态光散射法、超声测量法的发展现状。动态光散射法、超声测量法具有不破坏、不干扰体系原有状态的优点,特别适用于工业化生产中产品粒径的检测。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宫惠峰	邢台职业技术学院资源与环境工程系	11	68	5.0	8.0
2	果晶晶	邢台职业技术学院资源与环境工程系	15	37	4.0	5.0
3	陈宁	邢台职业技术学院资源与环境工程系	14	61	5.0	7.0