基于VC＋＋和TekVISA的取样示波器控制

• 作者: 曹勇 秦开宇 赵兰春
• 来源期刊: 自动化信息
• 学科: 工学
• 关键词: 特性阻抗 校准和测试 取样示波器 VC++ TekVISA
• 年，卷（期）: 2012,（3）
• 页码范围: 29-31
• 页数: 3页
• 分类号: TM934

摘要

在PCB生产线上，阻抗的测试尤其重要。传统的阻抗测试需要手工对取样示波器进行设置，不仅耗时而且效率低下。本文以泰克DSA8200取样示波器为例，首先介绍了使用TekVISA编程的方法和IPC—TM－650校准方法，然后利用面向对象的编程工具VC＋＋为其开发了控制程序，通过PC对取样示波器进行参数设置、发送命令、读取波形等一系列操作，最终控制取样示波器完成了特性阻抗的校准和测试。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	秦开宇	电子科技大学空天科学技术研究院	155	829	16.0	21.0
2	曹勇	电子科技大学空天科学技术研究院	14	38	3.0	5.0
3	赵兰春	电子科技大学空天科学技术研究院	1	0	0.0	0.0