基于N-P准则的红外线列非均匀性对目标检测的影响分析

• 作者: 林长青 赵明
• 来源期刊: 红外技术
• 学科: 工学
• 关键词: 红外线列探测器 非均匀性 信杂比 N-P准则
• 年，卷（期）: 2012,（4）
• 所属期刊栏目: 红外图像与仿真
• 页码范围: 237-242
• 分类号: TN215
• 字数: 2543字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-8891.2012.04.011

摘要

非均匀性是制约红外系统成像质量的关键因素之一.提出了非均匀性对目标检测影响程度的分析方法,给出了不同性能的目标检测系统对于非均匀性的指标要求.该方法首先采用点光源成像实验仿真了非均匀性和信杂比的关系,然后根据N-P准则(Neyman-Person Criterion)从理论上推导了信杂比与检测概率和虚警概率的关系.实验结果表明,非均匀性每增大1％,检测概率降低15％左右,当非均匀性达到10％时基本失去目标检测功能.当虚警概率降低到5％左右后将不再受非均匀性的影响.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵明	中国科学院上海技术物理研究所	40	556	10.0	23.0
5	林长青	中国科学院上海技术物理研究所	16	83	5.0	8.0