可靠度导引的相位解包裹算法

• 作者: 何光宏 王茂林 礼四同 郑凯
• 来源期刊: 激光杂志
• 学科: 工学
• 关键词: 相位解包裹 邻接线 可靠度
• 年，卷（期）: 2012,（3）
• 所属期刊栏目: 光全息与信息处理
• 页码范围: 25-26
• 页数: 2页
• 分类号: TN248.1
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0253-2743.2012.03.012

摘要

设计实现了基于可靠度导引的相位解包裹算法。该算法首先在像素可靠度的基础上计算邻接线可靠度，然后根据邻接线可靠度的高低规划解包裹路径。仿真和实测结果表明，该算法可以有效避免误差扩散引起的拉线现象，提高解包裹相位的可靠性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	何光宏	重庆大学物理学院	30	279	10.0	15.0
2	礼四同	重庆大学物理学院	1	11	1.0	1.0
3	王茂林	重庆大学物理学院	2	29	2.0	2.0
4	郑凯	重庆大学物理学院	14	120	8.0	10.0