引线框氧化与可靠性关系的研究

• 作者: 吴建忠 王伦波 王建新
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 引线框 氧化 可靠性
• 年，卷（期）: 2012,（10）
• 页码范围: 37-40
• 分类号: TN306
• 字数: 1580字
• 语种: 中文

摘要

铜材料引线框架具有良好的导电导热性能,同时具备良好的机械性能和较低成本,但是由于框架和塑封料之间较差的粘结力在回流焊时容易造成封装体开裂.文章研究了铜框架氧化膜的特性,以及氧化膜对半导体封装的可靠性影响.根据试验,氧化膜会随着时间温度而增加,当氧气含量低于1%时增加缓慢.当氧化膜的厚度超过20nm时,塑封料与氧化铜之间的结合力就会显著下降,同时交界面的分层也会加剧.最后针对氧化膜厚度受控的产品做回流焊测试,确认是否有开裂,结果表明与结合力测试相符.氧化膜的厚度需要低于42.5nm,可以提高在reflow时的抗开裂性能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴建忠		7	28	3.0	5.0
2	王伦波		2	2	1.0	1.0
3	王建新		1	1	1.0	1.0