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电子产品可靠性与环境试验期刊
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热真空试验设备中的控温方式研究
热真空试验设备中的控温方式研究
作者:
刘中华
刘国强
李树杰
原文服务方:
电子产品可靠性与环境试验
热真空
控温方式
升降温速率,温度浸透时间
摘要:
真空下进行温度循环试验时控温方式非常关键,选择合适的控温方式对试验结果有很大的影响.不同的控温方式,其升降温速率是不同的,温度浸透时间也是不同的;不合适的控温方式可能导致不正确的试验结果,甚至损坏试验样品.对热真空试验的控温方式进行了试验研究,分析了不同的控温方式的优缺点,在以后的试验过程中可以根据不同的试验来选择不同的、合适的控温方式.
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内容分析
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文献信息
篇名
热真空试验设备中的控温方式研究
来源期刊
电子产品可靠性与环境试验
学科
关键词
热真空
控温方式
升降温速率,温度浸透时间
年,卷(期)
2012,(4)
所属期刊栏目
可靠性与环境试验技术及评价
研究方向
页码范围
1-5
页数
分类号
TB24
字数
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1672-5468.2012.04.001
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
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1
刘中华
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4.0
5
刘国强
中国电子科技集团公司第十三研究所
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李树杰
3
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二级引证文献(3)
2020(2)
引证文献(0)
二级引证文献(2)
研究主题发展历程
节点文献
热真空
控温方式
升降温速率,温度浸透时间
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子产品可靠性与环境试验
主办单位:
工业和信息化部电子第五研究所(中国电子产品可靠性与环境试验研究所)
出版周期:
双月刊
ISSN:
1672-5468
CN:
44-1412/TN
开本:
大16开
出版地:
广州市增城区朱村街朱村大道西78号
邮发代号:
创刊时间:
1962-01-01
语种:
中文
出版文献量(篇)
2803
总下载数(次)
0
总被引数(次)
9369
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