利用漏磁辐射的非接触式开关电源稳定性探测方法

• 作者: 杨宏涛 王志明 王鹰 肖龙旭 胡波
• 来源期刊: 电子科技大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 电磁辐射 非接触 稳定性 开关电源
• 年，卷（期）: 2012,（3）
• 所属期刊栏目: 通信与信息工程
• 页码范围: 388-391
• 分类号: TM937.2
• 字数: 1197字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-0548.2012.03.012

摘要

为解决开关电源稳定性测试繁琐的问题,提出一种针对开关电源稳定性进行定性分析的非接触式测试方法.首先讨论了开关电源闭环模型稳定性准则、线圈耦合模型及修正等问题,然后分析了利用探测线圈对开关电源磁性元件的漏磁辐射进行探测的原理,说明通过对探测信号进行放大、变换和信号处理,能够获得可反映电源工作稳定性的信息.通过试验验证了该方法的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	肖龙旭		11	78	4.0	8.0
2	胡波		11	33	3.0	5.0
3	王鹰		5	18	3.0	4.0
4	王志明		4	8	2.0	2.0
5	杨宏涛		1	3	1.0	1.0