SOC中嵌入式存储器阴影逻辑的可测性设计

• 作者: 施文龙 林伟
• 来源期刊: 电子器件
• 学科: 工学
• 关键词: 可测性设计 扫描设计 阴影逻辑 故障覆盖率 自动测试图形生成
• 年，卷（期）: 2012,（3）
• 所属期刊栏目: 电子电路设计分析及应用
• 页码范围: 317-321
• 分类号: TN47
• 字数: 3063字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1005-9490.2012.03.017

摘要

在使用ATPG工具对集成电路进行固定故障测试时,嵌入式存储器模块被视为简单的I/O模型,ATPG工具无法传递存储器周围组合逻辑的故障.通过研究SOC的可测性设计后,针对某数字信息安全芯片设计,利用扫描设计原理,改进了其存储器周围逻辑的设计,为阴影逻辑提供了可测试路径,提高了整个芯片的测试覆盖率和故障覆盖率.分析了设计的功耗、面积,确定了设计的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	林伟	福州大学福建省微电子集成电路重点实验室	121	547	12.0	17.0
2	施文龙	福州大学福建省微电子集成电路重点实验室	1	6	1.0	1.0