内嵌于DDS的DAC线性参数测试

• 作者: 张凯虹 武乾文 武新郑
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 直接数字频率合成 数模转换器 静态参数
• 年，卷（期）: 2012,（5）
• 页码范围: 11-13
• 分类号: TN407
• 字数: 1413字
• 语种: 中文

摘要

文章重点介绍了内嵌于DDS的DAC线性参数的一种测试方法.该测试方法的优点是开发周期短、测试成本低、可在多种测试机台上实现.解决了DDS中不能对DAC输入端直接操作的难题,同时不影响其他参数的测试.文章基于LabView软件,使用示波器或NI板卡,结合其他仪器对DAC的静态参数进行了研究并试验.其中示波器或NI板卡完成信号采集,其他仪器完成芯片配置,微机对整个流程进行控制并将测试结果按序输出,实现测试自动化.通过试验证明该方法可行,测试效率高,测试结果达标并稳定.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张凯虹		20	27	3.0	4.0
2	武新郑		3	3	1.0	1.0
3	武乾文		10	27	3.0	4.0