ESMA揭秘材料表面：电子探针显微分析应用简介

• 作者: Marc Platthaus
• 来源期刊: 实验与分析
• 学科: 地球科学
• 关键词: 材料表面 分析应用 电子探针 显微结构 微区分析 化学成分 显微分析 审核机构
• 年，卷（期）: 2012,（4）
• 页码范围: 26-27
• 页数: 2页
• 分类号: P457.6

摘要

电子探针显微分析是一种在材料表面几微米范围内的微区分析方法．它是一种显微结构的分析．能将微区化学成分与显微结构结合起来。采用该方法分析元素范围广泛、定量准确且不损坏试样。来自德国联邦材料研究与审核机构（BAM）的Vasile—Dan Hodoroaba博士介绍了ESMA法在材料表面分析方面的应用情况。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	Marc Platthaus		1	0	0.0	0.0