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摘要:
Tantalum (Ta) oxide films with tunable structural color were fabricated easily using anodic oxidation.The structure,components,and surface valence states of the oxide filns were investigated by using gazing incidence X-ray diffractometry,X-ray photoelectron microscopy,and surface analytical techniques.Their thickness and optical properties were studied by using spectroscopic ellipsometry and total reflectance spectrum.Color was accurately defined using L*a*b* scale.The thickness of compact Ta2O5 films was linearly dependent on anodizing voltage.The film color was tunable by adjusting the anodic voltage.The difference in color appearance resulted from the interference behavior between the interfaces of air-oxide and oxide-metal.
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篇名 Tunable structural color of anodic tantalum oxide films
来源期刊 中国物理B(英文版) 学科
关键词 anodic tantalum oxide structural color spectroscopic ellipsometry optical interference
年,卷(期) 2012,(8) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 527-531
页数 5页 分类号
字数 语种 英文
DOI 10.1088/1674-1056/21/8/088101
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spectroscopic ellipsometry
optical interference
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中国物理B(英文版)
月刊
1674-1056
11-5639/O4
北京市中关村中国科学院物理研究所内
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