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摘要:
在去除光子图像的本底噪声时,根据微弱点目标的探测统计特性,以泊松分布均值与方差相等的特点为判据,提出了一种确定阈值选取范围的新方法.利用点过程的分析方法研究了光子受限点目标的探测统计特性,并进行了实验研究,结果表明光子受限点目标的探测统计特性服从平稳泊松点过程.利用以上分析方法可以快速地获得微弱点目标事件的期望发生率,以及在下一段时间内目标至少再出现一次的概率,从而为后续的目标探测、跟踪以及位置预测奠定了基础.
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文献信息
篇名 光子成像系统信号与噪声的统计特性分析
来源期刊 光学技术 学科 物理学
关键词 光子成像 泊松分布 泊松点过程
年,卷(期) 2012,(3) 所属期刊栏目 光学测量
研究方向 页码范围 340-344
页数 分类号 O436
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 俞信 北京理工大学光电学院 56 734 14.0 25.0
2 黄宇 北京理工大学光电学院 2 10 2.0 2.0
3 张晓芳 北京理工大学光电学院 17 222 8.0 14.0
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研究主题发展历程
节点文献
光子成像
泊松分布
泊松点过程
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相关学者/机构
期刊影响力
光学技术
双月刊
1002-1582
11-1879/O4
大16开
北京市海淀区中关村南大街5号
2-830
1975
chi
出版文献量(篇)
4591
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6
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