粉末压片X射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质元素

• 作者: 刘帅 刘静 张爱芬 马慧侠
• 来源期刊: 冶金分析
• 学科: 化学
• 关键词: X射线荧光光谱 粉末压片法 氧化铝 杂质元素
• 年，卷（期）: 2012,（12）
• 页码范围: 51-56
• 页数: 6页
• 分类号: O657.31
• 字数: 2838字
• 语种: 中文

摘要

介绍了X射线荧光光谱法测定氧化铝中杂质元素的方法.研究了粉末压片法中助研剂丙二醇的选择和用量,考察了氧化铝粒度对X射线荧光强度的影响.试验表明,样品的粒度达到40μm以下,粒度效应减弱；对于10.0g氧化铝样品,加2滴丙二醇,研磨40 s,并用硼酸镶边垫底,制备的测量样片效果较好.用系列氧化铝标准样品作校准曲线,对样品中11个元素进行测定,其SiO2、Fe2O3、Na2O、K2O、CaO、Ga2O3、ZnO测得结果的相对标准偏差(RSD)均小于8.0％,P2O5、TiO2、V2O5、Cr2O3的含量在3倍检出限以上,RSD小于10％,含量在3倍检出限以下的RSD小于17％.用氧化铝标准样品验证,测量结果与标准样品的认定值基本一致.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张爱芬	中国铝业股份有限公司郑州研究院	16	138	6.0	11.0
2	马慧侠	中国铝业股份有限公司郑州研究院	17	127	5.0	11.0
3	刘静	中国铝业股份有限公司郑州研究院	10	18	3.0	4.0
4	刘帅	中国铝业股份有限公司郑州研究院	1	7	1.0	1.0