TFT-LCD面影像残留改善研究

• 作者: 彭毅雯 徐伟 罗毅 韩彦军
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: 液晶显示器 影像残留 存储电容
• 年，卷（期）: 2012,（1）
• 所属期刊栏目: 器件物理及器件制备技术
• 页码范围: 66-69
• 分类号: TN141.9
• 字数: 1624字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/YJYXS20122701.0066

摘要

影像残留是一种TFT-LCD屏的固有特性.主要是由于长时间显示静态画面时液晶材料的极化敏感性造成的.这种极化影响了液晶材料的光学特性,并阻止液晶分子完全恢复到正常松弛状态.本文主要探讨了通过改变TFT设计来改善面影像残留现象的方案.通过设计实验变更TFT-LCD的主要参数(Pixel设计、Aperture Ratio、△Vυ等),提出了4种面影像残留改善方案并制作了样品.对这4种改善方案的试制样品进行了TFT-LCD面影像残留水平测量和评价,分析了各像素设计因素对面影像残留水平的影响；同时对试制样品的画面品质进行了评价,为解决相关画面品质问题对该方案进行了设计优化,最终获得了一种较佳的面影像残留改善方案.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩彦军	清华大学电子工程系	14	127	5.0	11.0
2	徐伟	清华大学电子工程系	15	127	7.0	11.0
4	罗毅	清华大学电子工程系	38	223	8.0	14.0
5	彭毅雯	清华大学电子工程系	2	25	2.0	2.0